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应用案例
CASE
用二合一解决方案进行清洁度分析 | 同时查看颗粒并了解其成分
整个分析工作流程比扫描电子显微镜(SEM)等其他方式更加快速，因为： 无需样本制备； 无需将样本转移到其他设备； 过滤样本始终在大气条件下在空气中进行分析。 二合一解决方案可提供待分析颗粒的目视和化学数据，能够在更短时间内为生产、质量控制和故障分析的进一步行动作出合理决策。
多通道荧光成像的目的是将各种荧光染料发射的光子收集到独立的检测通道中。为此，有必要对全发射光谱的组分进行空间分离，即将这些组分定位到不同的方向。传统上，这种分离是通过“次级二向色镜”（将激发与发射分离的主要分光器，称“主分光器”）进行的。除此之外，还可以通过使用棱镜或光栅来分离光子。根据光子的颜色对光子进行物理分类，这是一种原始的真彩分色方法。如果一次分色不充分，则可以通过数学拆分来补充。
“无限远光学”这一概念是指在显微镜的物镜和镜筒透镜之间具有平行光线的光束路径。平面光学元件可以进入到这个“无限远空间”中，而不影响成像，这对于利用DIC或荧光等成像方法至关重要。
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