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微焦斑XRF光谱仪X-Strata 系列

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基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

 

X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置,以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘,可快速被配置,以搭配小或大零件(6英寸)。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。

●正比计数器系统

●元素范围:钛- 铀

●样品舱设计:开槽

●XY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台

●样品尺寸:270 x 500 x 150毫米

●数量准直器:6

●滤波器:3

●小的准直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

●SmartLink 软件

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