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FT230台式XRF分析仪

荧光镀层测厚仪

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产品描述

产品亮点:

  • FT230的每一个部分都是为了大幅减少分析时间而设计的。
  • 自动聚焦减少样品装载时间
  • Find My Part™ 自动进行智能识别以设置完整的测量程序
  • 屏幕大部分区域用来显示样品视图,提供了极佳的可视度
  • 自检诊断程序确保了仪器的状况和稳定性
  • 与其他软件的无缝集成使其能够轻松导出数据
  • 由于采用了新的用户界面,非专业人员也能直观、方便地使用。
  • 功能强大,可同时测量四层镀层也可分析基质
  • 经久耐用,在充满考验的生产或实验室环境中使用寿命长
  • 符合ASTM B568和DIN ISO 3497标准
  • 帮助您满足ENIG(IPC-4552B)、ENEPIG(IPC-4556)、浸没锡(IPC-4554)和浸没银(IPC-4553A)的规格要求

 

  FT230 台式 XRF 分析仪
元素范围 铝 (13) - 铀 (92)
探测器 硅漂移探测器 (SDD)
样品台设计 开槽和闭合
XY 样品台设计 电动或固定
XY 样品台行程 250 x 200 mm
电动Z轴行程 205 mm
最大样品尺寸 500 x 400 x 150 mm
直准器数量 4
焦点激光 包含在标准配置内
自动对焦 可选
广角摄像机 可选
距离无关测量 可选
Find My Part™ 智能识别功能 可选
镀层测量

*仅提供概要性产品信息,这些信息不得构成任何订单或合同的一部分或视为与相关产品或服务有关的陈述,本公司保留更改任何产品信息或服务的规格、设计或供应条款的权利

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