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日立 EA1400 能量色散型X射线荧光仪

X射线荧光光谱仪

关键词:

能量色散型X射线荧光仪,ROHS分析仪,台式荧光光谱仪,荧光光谱仪

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产品描述

全新的硅漂移探测器(SDD)设计能提高分析镉和铅等RoHS物质的准确度和速度。新优化的x射线照射方法可提高分析不平坦和不规则表面的可重现性。此外,高性能探测器能提高计数率,增加探测痕量元素的精密度,并且实现测量较轻元素的卓越能力。为了确保最高生产率,将黄铜中镉的筛查(通常是XRF RoHS筛查中最具挑战性的一项)功能设计成比传统型号速度更快,从而大幅提高通量。

 

该软件的一项内置功能可直观标记超出预设浓度限制的预定义元素。使用精密度控制软件的EA1400一旦达到预定义参数将自动停止分析。可在预定义测量时间之前确定合格/失败情况,由此可增加测量多件样本的通量,从而节省时间且不会影响质量计划。除了RoHS筛查,EA1400也能够辨别矿渣(硅、钙、铝和镁)、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。

 

除了RoHS筛查,EA1400也能够辨别矿渣(硅、钙、铝和镁)、聚合物、矿物、化学品和其他材料中的主要成分。

 

简化RoHS筛查

有害物质分析仪专为在制造厂中发挥关键作用而设计,以符合指令要求。EA1400台式XRF光谱仪采用检测技术和创新的x射线光学设计,用于快速筛查RoHS物质。EA1400助力客户进行所需的筛查,以加快和简化生产环境中的RoHS检测,并允许客户随指令变化更新物质控制标准。

 

日立分析仪器产品经理Ashley-Kate McCann表示:“客户需要我们帮助其缩短测量每件样品的时间、简化测量结果管理、减少操作失误、提高效率。EA1400在满足此类客户需求的同时还能实现更高的检出限,且可为当前和未来不断变化的RoHS和其他限制物质指令提供一种筛查工具。”

 

探测器:SSD(无需液氮)

元素范围:Al(11)至U(92)

样品状态:固体/粉末/液体

测量面积:1 mmφ、3 mmφ、5 mmφ(电动切换)

样品舱:宽304×深304×高110毫米

过滤器:4款,5种模式,自动切换

样品观察:CCD全彩摄像机

操作:台式机电脑

 

 

*仅提供概要性产品信息,这些信息不得构成任何订单或合同的一部分或视为与相关产品或服务有关的陈述,本公司保留更改任何产品信息或服务的规格、设计或供应条款的权利

 

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