工程师日记 | 解决测厚仪发生Z轴警报的问题


客户反馈:仪器在使用过程中出现Z轴警报,重启多次不能解决。

采用硅漂移探测器,实现电子和金属精加工镀层分析的精准测量


在电子制造与通用金属精加工领域,精度决定一切。无论是确保电路板的完整性,还是验证保护涂镀层的均匀性,精准测量镀层厚度与成分都至关重要。现代XRF设备的核心正是硅漂移探测器(SDD)。 若您从事化学镀镍(EN)镀层或任何复杂多层金属表面处理工作,投资配备高性能SDD的XRF分析仪是必然选择。

X-MET8000系列手持式X射线荧光分析仪用于测定钢材上的汞 (Hg),助力提升船舶退役安全性


接触汞(Hg)会严重损害神经系统、消化系统和免疫系统。石油和天然气中通常含有少量汞元素,这些汞元素会沉积在钢制燃油箱的内表面上。船舶经过多年运行后,即使少量的汞也会在钢表面上累计足以造成危险的高浓度汞。

资料合集|徕卡工业应用软件平台


在工业质量控制和材料研究方面,您和您的团队有着相同的目标:提供信心百倍的可靠结果。通过有助于日常任务的软件,令您的团队工作速度更快,效率更高,结果更精准。

一张图看懂徕卡光学物镜上的标识


徕卡显微系统提供超过240款标准光学物镜,并且支持根据客户需求定制开发专用的物镜。这些物镜上有不同的标识,包括数字、符号、英文单词和缩写。很多首次接触物镜的朋友不理解这些标识的含义。

徕卡智能偏光显微镜在辽宁拓泰智能科技有限公司的典型应用案例


徕卡智能偏光显微镜在辽宁拓泰智能科技有限公司的煤焦岩相分析系统中的应用,充分展示了其在能源及材料检测领域的性能。不仅为企业提供了高精度、高效率的检测手段,还助力企业提升产品品质,增强市场竞争力,

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