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应用案例
CASE
对于目前主流显示面板市场而言，常见的显示技术包括LCD（液晶显示）、有机发光二极管显示（OLED）、电泳显示、以及新兴的Micro LED（微型发光二极管）显示技术等；各种显示技术均具有独特的特点及应用领域。
01 黑暗之主的盔甲：奇迹与疏忽的故事 我们都知道达斯·维达那令人敬畏的形象，这位强大的存在被包裹在一套维持生命的盔甲中，这是在一场悲剧的决斗后，他变得比人类更像机器。然而，在这项技术奇迹的表面之下，隐藏着许多挑战，包括行动限制、对原力闪电的脆弱性，以及曾经敏捷的阿纳金·天行者因笨拙设计而受到的阻碍。
本文介绍了一种配备自动化和可重复的 DIC（微分干涉对比）成像的 6 英寸晶圆检测显微镜，无论用户的技能水平如何。制造集成电路（IC）芯片和半导体组件需要进行晶圆检测，以验证是否存在影响性能的缺陷。这种检测通常使用光学显微镜进行质量控制、故障分析和研发。为了有效地可视化晶圆上结构之间的细微高度差异，可以使用 DIC 。
X-MET8000系列用于快速测量 质子交换膜（PEM）上的Pt和Ir载 量
质子交换膜是未来可持续能源系统的关键技术。燃料电池中的质子交 换膜能够高效地将氢气转化为电能，且无有害气体排放。质子交换膜 燃料电池广泛用于电解水制氢，质子交换膜在氢能产业中发挥着至关 重要的作用。
FT230 XRF镀层分析仪专用于满足镀层行业的特殊需求。FT230通过整合全新的软件界面、用户体验功能以及高端分析组件，可以更简便地测试更多数量的样品，从而使操作员有时间在测量XRF的同时，执行其他工作。FT230配备四种新的关键功能，可助力更快完成镀层分析：
生产过程中颗粒的污染给电池制造商带来了诸多挑战。不同大小和组成的颗粒会沉积在电池内部，导致短路、过热、性能下降和电池寿命缩短。在电池生产过程中，快速准确地识别可能造成损害的颗粒对于实现快速可靠的质量控制至关重要。利用光学显微镜的清洁度分析解决方案可用于高效且具有成本效益的电池颗粒检测和分析。为了更好地了解颗粒可能造成损害的潜力，结合光学显微镜与LIBS的“二合一”解决方案，对颗粒进行同时的视觉和化学评估，将是一个优势。
