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高分辨率X射线三维检测显微镜来袭！
发布时间：2019-04-15
高分辨率X射线三维检测系统是一种在检测过程中保持样品在检测时不被损坏的一种检测方式。是工业、材料、环境等领域中常见的检测方法之一，适用于对样品进行无损检测、故障分析、过程控制等。
CT-COMPACT nano是一款紧凑的台式高分辨率X射线三维检测显微镜，采用独有的探测器技术，满足各种高应用需求。优化对比度，可以改变检测器距离。对于高放大倍率，可以使用不同的平板探测器，水平定向的X射线束使CT扫描不受重力影响。
广泛适用于石油、天然气、汽车、电源、矿石、航天、科学研究等领域。
CT-COMPACT nano
产品特点
◆对大/小样品进行高分辨率三维X射线成像
◆显微镜设计使样品距离X射线源有大的工作距离情况下具有高分辨率，这是进行原位成像恶化大样品成像的先决条件
◆对同一个样品进行多尺度范围成像，跨越很宽的放大倍率
◆对低原子序数材料和生物样品进行高衬度的相位增强成像
◆对样品进行无损成像，仅需简单甚至无需样品制备
◆提供各种原位辅助装置，对实际大小的样品（从毫米到数厘米）进行亚微米成像
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