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        商品详细信息
        • 商品名称: GD-Profiler™ HR辉光放电光谱仪
        • 商品编号: 365
        • 上架时间: 2015-03-26
        • 浏览次数: 94
        • 市场价:
        • 零售价:

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        应用领域
        脉冲射频辉光放电光谱仪不仅可对表面/深度进行剖析,同时也可做成分分析。它对固体材料,如金属、金属合金镀层、半导体、有机镀层、玻璃等中所有的元素都有很高的灵敏度,甚至是气体元素也可进行分析。
        作为新兴的表面分析技术,辉光放电光谱仪凭借其独特的功能和特点,可以与XPS和SEM有很好的互补。
        GD-OES功能及用途
        脉冲射频辉光放电光谱仪能够在短短几分钟内帮助您获得如下信息:
        样品中含有什么元素?
        属于哪个浓度水平?
        样品在深度上是否分布均匀?
        样品是否有镀层或应用了表面处理?
        镀层的厚度是多少?
        界面是否有污染?
        样品是否被氧化?
        不同层之间是否存在散射?
        HORIBA Scientific研发的脉冲射频辉光放电光谱仪(简称 GD)采用了多项专利技术,从而具有许多独特的性能,这些性能使其成为材料研究和加工的理想表征工具。
        新的脉冲射频辉光源可以测试任何类型的固体样品:包括导体、非导体,甚至是在检测脆性样品或热敏样品时也具有最佳性能。
        HORIBA Scientific的所有GD仪器都采用了高动态范围检测器(专利技术,简称 HDD),采用该项技术,使仪器的灵敏度可以做到实时、自动优化。这样在分析样品的时候可以做到对样品的痕量变化到常量浓度分析,甚至100%的元素进行快速灵敏的检测而无需任何折衷或参数预设。

        GD-Profiler™ HR
        概要
        最好的辉光光谱仪:具有独一无二的性能指标。 HORIBA Jobin Yvon GD-Profiler™ HR 对于解决分析问题,即使是最复杂的基体,提供了最好的分别率和元素数量。60种元素(包括气体元素)可以同时分析。
        特征
        RF射频发生器- 标准配置,符合E级标准,稳定性高,溅射束斑极为平坦,等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。
        脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜,也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
        多道(同时)型光学系统可全谱覆盖,光谱范围:110nm至800nm,包含远紫外,可分析C, H, O, N, Cl
        HORIBA Jobin Yvon 的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器有最大光通量,因而有最高的光效率和灵敏度
        专利HDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测,动态范围达到10个量级
        宽大的样品室方便各类样品的加载
        功能强大的QUANTUMT XP软件可以多种格式灵活方便的输出检测报告
        激光指点器(CenterLite laser pointer,专利申请中)可用于精确加载样品
        HORIBA Jobin Yvon独有的单色仪(选配件)可极大的提高仪器的灵活性,可同时测定N+1个元素
        GD-Profiler HR 1米焦距,分辨率高达14pm,可同时分析60个元素.
        GD-Profiler HR 可以附加选配1米焦距单色仪,最高分辨率达9pm.

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