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        商品详细信息
        • 商品名称: 微焦斑XRF光谱仪X-Strata 系列
        • 商品编号: 315
        • 上架时间: 2014-03-21
        • 浏览次数: 1838
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        基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法,提供易于使用、快速和无损的分析,几乎不需要样本制备,能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品。

        X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置,以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深台基座有一个可移动托盘,可快速被配置,以搭配小或大零件(最大6英寸)。电动X-Y台可自动分析多个样品或一个样品的多个位置。

        l正比计数器系统

        l元素范围:钛- 铀

        l样品舱设计:开槽

        lXY 轴样品台选择: 固定台、加深台、自动台

        l最大样品尺寸:270 x 500 x 150毫米

        l最大数量准直器:6

        l滤波器:3

        l最小的准直器:0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

        lSmartLink 软件

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